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기기명
X선 회절 분석기
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영문명
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분류
나노소재 측정분석장비
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장비상태
정상
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기기모델
D2 PHASER
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설지장소
연구원본관 측정분석실
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제조회사
Bruker
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구입일자
2011-12-06
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장비담당
전화 : 033-452-9712
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장비사양
-Max.useable angular range : -3~160˚2Theta
-Accuracy : ±0.02˚throughout the entire measuring range
-Achievable peak width : <0.05˚
-Alignment Not needed, factory aligned
-X-ray wavelenths Cu, standard ceramic sealed tube
-X-ray generation : 30kV/10mA
-Power supply : 90-250V
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장비활용
- 시료의 X선 원소분석, X선 회절 분석, 결정구조, 결정립 크기, 면간격, 박막 두께, 배향된 방향분석
- 증착 film에 대한 구조특성 측정 및 해석
- 디스플레이/반도체 소자의 X-선 회절에 의한 소자내의 고유 결정상 측정분석
